嵌入式培訓(xùn)班物聯(lián)網(wǎng)_淺論嵌入式系統(tǒng)離線測(cè)試

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嵌入式培訓(xùn)班物聯(lián)網(wǎng)_淺論嵌入式系統(tǒng)離線測(cè)試,   

引言

　　隨著嵌入式系統(tǒng)的發(fā)展，迫切需要在嵌入式系統(tǒng)開發(fā)階段對(duì)嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行離線測(cè)試與分析，以保證系統(tǒng)的軟件應(yīng)用程序、硬件具有兼容性、高可靠性和高可用性，迅速發(fā)現(xiàn)并準(zhǔn)確定位系統(tǒng)中存在的問題。本文結(jié)合上海貝爾阿爾卡特股份有限公司開發(fā)的寬帶交換系統(tǒng)，討論離線單板硬件測(cè)試方法和系統(tǒng)測(cè)試方法。

　　離線單板硬件測(cè)試概述

　　在寬帶交換機(jī)系統(tǒng)中，離線測(cè)試包括自檢測(cè)試和一般的離線測(cè)試。自檢測(cè)試是單板初始化完成后為了保證板子的正確運(yùn)轉(zhuǎn)進(jìn)行的測(cè)試。它主要包括看門狗測(cè)試、快速硬件器件測(cè)試和下載通路測(cè)試�？焖儆布�測(cè)試完成寄存器測(cè)試和單板上單個(gè)硬件設(shè)備測(cè)試，其中又包括許多測(cè)試項(xiàng)。如果某一測(cè)試項(xiàng)測(cè)試失敗，整個(gè)測(cè)試就會(huì)停止直到看門狗超時(shí)重啟系統(tǒng)。下載測(cè)試是為了保證軟件下載功能能正常工作而進(jìn)行的測(cè)試。這項(xiàng)測(cè)試主要完成通信接口收發(fā)數(shù)據(jù)測(cè)試、中斷功能測(cè)試。而一般的離線測(cè)試是在出廠檢驗(yàn)、開發(fā)階段中的檢測(cè)和維修診斷時(shí)對(duì)上述的各測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行更具體的測(cè)試，以定位單板上的出錯(cuò)位置。

　　看門狗測(cè)試

　　在做任何一項(xiàng)硬件測(cè)試之前必須完成看門狗測(cè)試。這是因?yàn)橐豁?xiàng)硬件測(cè)試失敗之后需要重啟系統(tǒng)，而硬件測(cè)試的失敗通常是以看門狗超時(shí)為判斷條件的。這就需要看門狗在硬件測(cè)試時(shí)能正常工作�？撮T狗測(cè)試方法是設(shè)置并激活一個(gè)1秒的看門狗，等待1秒后系統(tǒng)重啟。

　　Flash測(cè)試

　　在Flash中可存放程序，也可以存放數(shù)據(jù)。在燒錄Flash時(shí)，可存放預(yù)先計(jì)算好的checksum值。要測(cè)試Flash時(shí)，程序重新計(jì)算checksum，然后與預(yù)先存放的值進(jìn)行比較。

　　數(shù)據(jù)Flash的測(cè)試方法有兩種。一種是非破壞性的基本測(cè)試，主要是checksum測(cè)試。另一種是破壞性的擴(kuò)展測(cè)試，包括讀寫測(cè)試和地址/數(shù)據(jù)總線測(cè)試，具體方法與內(nèi)存測(cè)試一致�；�本測(cè)試可在系統(tǒng)自檢時(shí)使用，擴(kuò)展測(cè)試可在維修診斷時(shí)采用。

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　　內(nèi)存測(cè)試可分為三類：

　　1. 數(shù)據(jù)總線測(cè)試: 將0001循環(huán)左移并寫入內(nèi)存，然后讀出并比較測(cè)試。

　　2. 內(nèi)存區(qū)測(cè)試: 對(duì)內(nèi)存所有存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀寫測(cè)試（讀寫5555H和AAAAH測(cè)試）。

　　3. 地址總線測(cè)試:對(duì)內(nèi)存所有存儲(chǔ)單元進(jìn)行地址累加測(cè)試。從RAM的基地址起，在每一個(gè)存儲(chǔ)單元（按照總線寬度）中寫入不同的值（遞增值），地址遞增，直至所有的存儲(chǔ)單元都保存不同的內(nèi)容，然后讀出并進(jìn)行檢驗(yàn)。

　　地址總線測(cè)試還可采用快速測(cè)試的方法：對(duì)0x1地址的內(nèi)存單元寫入地址值0x1，地址值循環(huán)左移，依次將相應(yīng)的地址值寫入相應(yīng)的內(nèi)存地址，最后檢驗(yàn)。

　　在本文的系統(tǒng)中，自檢測(cè)試時(shí)只包括內(nèi)存區(qū)測(cè)試。并且，由于測(cè)試時(shí)間的限制，只是隨機(jī)選擇內(nèi)存的一些頁面進(jìn)行讀寫測(cè)試。對(duì)于其它的內(nèi)存測(cè)試方法，可以用于出廠檢驗(yàn)、開發(fā)階段中的檢測(cè)和維修診斷。

　　主控芯片測(cè)試

　　主控芯片測(cè)試主要是對(duì)主控芯片進(jìn)行定時(shí)器測(cè)試、寄存器測(cè)試、中斷測(cè)試和片內(nèi)RAM測(cè)試。寄存器測(cè)試是對(duì)一些特殊寄存器的功能進(jìn)行測(cè)試，以驗(yàn)證CPU寄存器是否能正常工作。中斷測(cè)試是人為產(chǎn)生一些硬件中斷，檢測(cè)主控芯片對(duì)中斷的反應(yīng)，是否能及時(shí)標(biāo)志中斷寄存器的相應(yīng)標(biāo)志位。片內(nèi)內(nèi)存測(cè)試則遵循一般內(nèi)存測(cè)試規(guī)則。

　　PLD/FPGA簡(jiǎn)單測(cè)試

　　在寬帶交換機(jī)系統(tǒng)中，較大的FPGA常實(shí)現(xiàn)較復(fù)雜的功能。在測(cè)試時(shí)要對(duì)相關(guān)的功能進(jìn)行詳細(xì)的功能測(cè)試。而對(duì)于其它簡(jiǎn)單的小型PLD/FPGA則尋求自測(cè)的方法，在PLD或FPGA的編制過程中，適當(dāng)?shù)募尤胍恍┳詼y(cè)手段。當(dāng)主控芯片要測(cè)試它們時(shí)，設(shè)置和讀取相應(yīng)的PLD或FPGA的測(cè)試接口，從而獲得測(cè)試結(jié)果。