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測試前不校準,真實結果知多少?

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發(fā)表于 2020-5-29 15:36:12 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
作者 | 劉麗娟(一博科技高速先生團隊隊員)& P' M9 P' c6 y* }. D& ?) c
5 J5 F1 F( N% H8 ~- @9 V8 g

: j7 L! ~4 E* O" ]上上周我們在B站放了關于矢網為什么要校準,以及校準實操步驟的視頻。
% k0 T& l( J4 h4 S: u: v; d
* O  Y1 `0 I2 E% t有同學在反問我:那我不校準能咋地?看你操作半天,好浪費時間,就不校就不!
5 I' S' i# h, \) \. |/ L/ C  [2 d: L; G0 v! i
對于這么傲嬌的人,已經不能單純地以理論說服他了,先直接簡單粗暴地把測試結果丟出來。5 z, F- D0 O% v) |* ^

( Y% |% q3 b" i1 b1 {1 r矢網(VNA)看家本領是測S參數(shù),那我們就先來看看對于同一個DUT,做完校準測出來S參數(shù)結果是什么樣的?而如果不做校準,測出來的S參數(shù)又是什么樣的,和真實結果能有多大差異?
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, A: N: m. {* H) x& b對于上圖所示的一對內層的差分走線,在5GHz處,校準后測出來的插損只有1.264dB,不做校準測出來的插損是4.226dB,比真實損耗多了3dB。這多出來的3dB就是儀器+cable的損耗。
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. T! \9 n9 x5 e, o2 M- n( j對于測量S參數(shù)前要校準,絕大多數(shù)同學還是認可的。因為在頻域無法將儀器、cable和DUT的效應區(qū)分開,看到的就是三者total的效應。但測阻抗要不要校準,就有不同的聲音了:“阻抗結果是按時間先后順序顯示的,校不校準都能看到DUT的阻抗”。先不解釋,還是直接把對比結果秀出來。' i, r& m; B9 |6 }1 r9 ]+ a8 _

/ u% b* _8 T2 f* p) `. Z8 ?+ X4 \先來看看不校準直接測阻抗,結果是什么樣的。我設置了一個測量區(qū)間,可以看到在測量區(qū)間內最大值是107.9Ω,最小值是101.9Ω。, S$ k' A" s# Z- X6 A3 n1 j& n

9 Z, i& ?& e, c9 ^5 `! K0 B再來看看校準后的阻抗測試結果是什么樣的:此時在測量區(qū)間內的最大值變成了102.2Ω,最小值變成了97Ω。
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) d/ \& g& n+ V  b+ }) J1 b/ [8 O1 H( G" D7 n/ f+ p2 c
上面兩張圖,雖然不校準也能很清晰地辨認出屬于DUT的阻抗區(qū)間,但是不校準直接測的阻抗比校準后再測的阻抗高了5ohm左右。這個差異度你能接受嗎?比如客戶的設計阻抗是100ohm,給到工廠加工的阻抗管控要求是100ohm+/-10%,制板出來的阻抗是106ohm,本來板子是妥妥地滿足100ohm+/-10%的要求,結果被你圣手一測,阻抗直接飚到了111ohm,好了,判Fail。不管你能不能接受,反正工廠是第一個被冤死了,接著客戶也被嚇得心慌慌,準備開會討論要不要往下做PCBA了。1 O0 K8 B  F, L! ?( a& c. w. L
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發(fā)表于 2020-5-30 15:03:35 | 只看該作者
頂………………
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